Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Pomiń baner

MAMY CERTYFIKAT
DOSKONAŁOŚCI KSZTAŁCENIA

na kierunku FIZYKA

Grawitacja Einsteina w erze AI
prof. Sebastian Szybka

11 lipca, 18:30

Exploring the Universe
prof. Mairi Sakellariadou

11 July, 7:15 PM

Kod źródłowy:
od badań podstawowych
do rewolucji cyfrowej

Film z serii "Research in Spotlight"

OD CZĄSTECZKI DO NANOURZĄDZEŃ

Film z serii "Research in Spotlight"

Studiuj na UJ

Odwiedź nasze
media społecznościowe

Nauka i współpraca z biznesem

na Wydziale Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej UJ - rozmowa

Poznajemy Świat
Od nanoskali do Wszechświata

Tworząc
lepsze jutro

Spot promocyjny
Rozmowy z naukowcami

Popularyzacja nauki

Nawigacja okruszkowa Nawigacja okruszkowa

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Prezentacja aparatury kontrolno-pomiarowej

We wtorek, 24 marca w godzinach 10.00 - 15.00 na Wydziale FAIS odbędzie się prezentacja aparatury kontrolno-pomiarowej firm Keysight Technologies (dawniej Agilent Technologies) i Fluke Calibration. Prezentowane będą m.in. oscyloskopy, multimetry, analizatory i generatory, przyrządy ręczne.

Wszystkich zainteresowanych pracowników zapraszamy do odwiedzenia stanowiska.

Data opublikowania: 04.03.2015
Osoba publikująca: Anna Gawlik